YFF21SC1E223MT000N
TDK Corporation
Изображения приведены только для справки.
См. Спецификации продукта для информации о продукте.
Купить YFF21SC1E223MT000N с уверенностью от AtechElec.com, 1 год гарантии
См. Спецификации продукта для информации о продукте.
Купить YFF21SC1E223MT000N с уверенностью от AtechElec.com, 1 год гарантии
Запрос цитаты
| Часть № | YFF21SC1E223MT000N |
|---|---|
| производитель | TDK Corporation |
| Описание | CAP FEEDTHRU 0.022UF 25V 0805 |
| Статус бесплатного свидания / Статус RoHS | Без свинца / Соответствует RoHS |
| Ссылка Цена (в долларах США) | Получение предложения | ||||
Спецификация
Техническая спецификация
| Напряжение - Номинальный: | 25V |
|---|---|
| Толерантность: | ±20% |
| Температурный коэффициент: | - |
| Размер / Dimension: | 0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm) |
| Серии: | YFF-SC |
| Рейтинги: | - |
| упаковка: | Tape & Reel (TR) |
| Упаковка /: | 0805 (2012 Metric), 4 PC Pad |
| Другие названия: | 445-16145-2 YFF21SC1E223M |
| Рабочая Температура: | -55°C ~ 125°C |
| Тип установки: | Surface Mount |
| Уровень чувствительности влаги (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Статус бесплатного свидания / Статус RoHS: | Lead free / RoHS Compliant |
| вносимые потери: | 30dB @ 10MHz ~ 2GHz |
| Высота (макс): | 0.039" (1.00mm) |
| Подробное описание: | 0.022µF Feed Through Capacitor 25V 2A 80 mOhm 0805 (2012 Metric), 4 PC Pad |
| Сопротивление постоянного тока (DCR) (макс.): | 80 mOhm |
| Текущий: | 2A |
| емкость: | 0.022µF |
| Email: | info@atechelec.com |
Вводить
Мы можем предоставить YFF21SC1E223MT000N, использовать форму цитаты запроса, чтобы запросить YFF21SC1E223MT000N PIRCE и время выполнения заказа.Atech Electronics Профессиональный дистрибьютор электронных компонентов.С 3+ миллионами линейных элементов доступных электронных компонентов может быть доставлена в короткие сроки, а более 250 тысяч деталей в складе на складе для немедленной доставки, что может включать номер детали YFF21SC1E223MT000N. Цена и время за выполнение YFF21SC1E223MT000N в зависимости от количестваТребуется, доступность и склад
